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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORESDUORES手持式薄層電阻測量儀（2個探頭更換用[接觸式和非破壞性測量探頭]）
日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES
易于攜帶和測量的手提式薄層電阻測量儀：DUORES
根據測量目標交換并使用兩種類型的探頭（非破壞性和接觸型）。
•世界首chuang的便攜式薄層電阻測量裝置，可以替換和使用兩種類型的探頭（非破壞性和接觸型） •
只需放置/應用探頭即可自動進行測量
•電池連續工作時間：24小時（*電池）使用時）
•顯示的數據數量：z多100（*從新數據顯示）
•保存的數據數量：z多50,000（*軟件顯示）
•測量數據傳輸功能：USB-Mini
•顯示：3種類型的顯示單位（Ω/□，S /□，n / m [金屬膜厚度轉換]）， 4位浮點少數點（0.000至9999）
日本napson手持式薄層電阻測量儀DUORES
測量目標
薄膜，玻璃，紙材料等
通常，可以在測量范圍內測量任何樣品。
•薄膜材料（ITO，TCO等）
•低電子玻璃
•碳納米管，石墨烯材料
•金屬材料（納米線，網格，網眼）
•其他
測量尺寸
不論尺寸和厚度如何均可測量
（*大于每個探頭的測量點尺寸）
<測量點>
?無損探棒（渦電流型）：φ25mm
?接觸式探頭（4種探頭類型）：9毫米
測量范圍
?無損探棒（渦電流法）：0.5 -200Ω/ sq
?接觸探棒（4探針法）：0.1 -4000Ω/ sq
