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正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析

發布日期：2022-11-30 瀏覽次數：1246

正電子壽命譜儀 (PSA)的原理分析

產品概要

這是一種可以使用正電子評估亞納米尺寸（原子級）的微小缺陷和空隙的方法。
正電子壽命測量是一種能夠使用正電子評估亞納米尺寸（原子級）微缺陷和空隙的技術。

本裝置應用實例

噴丸質量檢查
金屬疲勞損傷評估

適用于

鋼、鋁、鈦等各種金屬
非晶態材料，例如玻璃和聚合物
測量深度距表面約50μm（鋼材）

*與產業技術綜合研究所共同開發

正電子壽命法原理

圖1是正電子進入金屬材料并湮滅的示意圖。
正電子壽命測定法是準確測定正電子產生時放出的γ射線與電子對湮滅時產生的γ射線的時間差（正電子壽命）的技術。材料中空位越多，位錯密度越高，正電子壽命越長。
■所謂陽電子
帶正電荷的電子“反粒子"。與電子相遇就會對消失γ放出線。
■所謂正電子壽命
是指正電子與電子相遇并消失之前的時間（壽命）。正電子壽命取決于電子密度，空隙尺寸越大，電子密度越低，所以正電子壽命會更長。

常用規格

正電子源	Na-22 (~1MBq)
計數率	約 100 厘泊
測量范圍	40 ns（對于金屬、半導體和聚合物）
附屬設備	?HDO4024（Teledyne LeCroy DSO）、（HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm]） ?特殊程序 ?筆記本電腦等。

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