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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本yokogawa光譜分析儀AQ6374波長范圍：350-1750nm波長分辨率設置：0.05-10nm寬電平范圍：+20 至 -80dBm波長精度：± 0.05 nm電平靈敏度：-80 dBm動態范圍：60 分貝波長采樣數：100001點用于校準/波長校準的內置光源吹掃機制
| 產品種類 | 臺式 | 數顯功能 | 有 |
|---|---|---|---|
| 溫控功能 | 有 |
日本yokogawa光譜分析儀AQ6374
波長范圍：350-1750nm
波長分辨率設置：0.05-10nm
寬電平范圍：+20 至 -80dBm
波長精度：± 0.05 nm
電平靈敏度：-80 dBm
動態范圍：60 分貝
波長采樣數：100001點
用于校準/波長校準的內置光源
吹掃機制
日本yokogawa光譜分析儀AQ6374
一個單元涵蓋從可見光到光通信波長的寬波長范圍。
它可用于評估各種設備。
可用于DFB-LD和VCSEL的發射光譜測量以及光纖的波長損耗特性等廣泛的應用。
從高功率信號測量到弱光測量，您可以根據應用和測量速度等條件從 7 個級別中選擇合適的測量靈敏度設置。
不僅可以使用單模光纖和多模光纖，還可以使用800μm大直徑光纖。
在 1380 nm 附近的波長范圍內，由于水蒸氣的影響，觀察到強烈的光吸收，這可能會干擾測量。
AQ6374通過從背面的供氣口/排氣口向單色器內部連續供給氮氣等吹掃氣體，可以降低水蒸氣光吸收對測量的影響。
根據測量波段自動設置用于去除不必要的階次重疊的濾光片。
采用先進的單色器技術、高速電路、新創的降噪技術，實現高速光譜測量。
對于測量激光和弱信號等急劇上升的光譜非常有用。
將波長樣本數加倍。您可以同時測量更寬的波長范圍，同時保持高分辨率。
解決了數據點數量不足導致波長分辨率顯著下降、波長范圍劃分測量效率低下等問題，使測量更加準確、高效。
