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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
| 類型 | 數字式 | 測量范圍 | 1 |
|---|
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度，從而導致結果。高精度測量是困難的。
另一方面，在諸如X射線厚度計之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中，測量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但是由于樣品引起的衰減很大。比空氣的厚度大，運輸的影響僅表現為空氣層厚度的變化，并且影響很小。因此，可以高精度地進行測量。
軟X射線測厚儀的一般功能
與傳統的軟X射線測厚儀相比，我們的軟X射線測厚儀的功能
采用
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
