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更新日期：2025-05-02
簡(jiǎn)要描述：
日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT該裝置是通過(guò)掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜，薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置。在高導(dǎo)熱膜的情況下，也可以測(cè)量亞微米薄膜。
日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT
該裝置是通過(guò)掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜，薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置。
在高導(dǎo)熱膜的情況下，也可以測(cè)量亞微米薄膜。
日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT
| 模型 | 激光PIT-R | 激光PIT-M2 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 逆時(shí)針 | 室溫?200℃ |
| 交流電 | 激光二極管（685nm，30mW） | |
| 樣品尺寸 | 自支撐薄板：寬度2.5至5毫米x長(zhǎng)度30毫米x厚度3至500μm 基板上的薄膜：寬度2.5至5毫米x長(zhǎng)度30毫米x厚度100納米至1000納米 | |
| 測(cè)量周期 | 0.05?10 /秒 | |
| 測(cè)量氣氛 | 在真空中 | |
LaserPIT使用玻璃基板來(lái)測(cè)量薄膜的熱導(dǎo)率。通過(guò)僅在一個(gè)玻璃基板的一半表面上形成薄膜的方法來(lái)測(cè)量玻璃基板的膜形成區(qū)域和非沉積區(qū)域。根據(jù)“兩個(gè)區(qū)域的測(cè)量結(jié)果”，“玻璃基板的厚度和體積比熱容”以及“薄膜厚度和體積比熱容”來(lái)評(píng)價(jià)薄膜的導(dǎo)熱率。
