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更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851配備自動對焦選擇兩種測量模式以使測量工作更順暢
| 類型 | 數字式 | 測量范圍 | 1 |
|---|
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851
配備自動對焦
選擇兩種測量模式以使測量工作更順暢
?自動測量模式
⇒將要測量的物體放在激光筆照射位置，關門時，載物
臺將自動移動并自動進行測量。
-手動測量模式
⇒類似于上面的自動測量模式，當設置了要測量的物體并且
門關閉時，載物臺會自動移動甚至聚焦
多測量/多校準線
記錄坐標并從激光指示器的照射位置自動測量多個點。
可以使用不同的校準線測量多個點。
自動對焦
只需將測量單元對準激光指示器的位置，然后關上門即可自動移至測量值并執行測量。
測量后，打開門，載物臺將自動返回到前面。
采用雙重過濾器
通過使用除中性過濾器之外的機械過濾器（雙重過濾器），可以在z佳條件下進行測量，從而始終獲得z高的精度。
增強的報告創建功能
通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并增強報告創建功能。
使用多任務功能，即使在測量過程中，也可以進行包括報告創建在內的其他處理。
內置5種準直儀
z小準直儀為0.1φmm，可測量極小的零件。
標準0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有兩種特殊規格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護功能
自診斷功能會立即采取措施解決設備問題。
另外，增加了X射線管的使用時間和耐用時間顯示功能，以確保維護安全。
膜厚測量中的頻譜顯示
多通道光譜分析高速處理使簡單的操作可以顯示被測物體的光譜。（處理速度約2至3秒）
顯示測量單元監控圖像
將X射線照射部件導入Windows屏幕并顯示X射線照射部件。
準直儀實現改變尺寸的放大率改變功能。
可視化顯示被測物的鍍層附著力分布
3D圖形顯示使您可以一目了然地檢查被測物體的鍍層厚度分布。
Be窗口X射線管（選件）提高的性能（高精度）
我們已經為熒光X厚度計準備了Be窗口X射線管。
通過使用Be窗口X射線管，顯著提高了Cr測量和Ni測量的重復測量精度。
與標準X射線管的比較
高能量（高原子序數）Sn等的測量與以前相同。
當測量低能量（低原子序數）的Cr和Ni時，重復精度提高了Cr約3倍，Ni約2倍。
當測量兩層時，中間層Ni的測??量精度提高了約20％。
通過使用Be窗X射線管，在Cr的情況下，與常規標準機器相比，可以獲得約9倍或更大的熒光X射線強度。
因此，可以在短時間內以與以前相同的精度進行測量。
請考慮使用此Be窗口X射線管。
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851
EX-851 | 測量臺尺寸（mm） | 200 x 200 | |
運動量 | X（毫米） | 200 | |
Y（毫米） | 200 | ||
Z（毫米） | 90 | ||
被測物高度（mm） | 90 | ||
尺寸（毫米） | 740（W）x 530（D）x 660（H）*不包括突起 | ||
重量（公斤） | 85 | ||
樣品負荷（公斤） | 1個 | ||
電腦 | 尺寸（毫米） | 主機182（W）x 383（D）x 372（H） | |
重量（公斤） | 主機6.8 /顯示器2.8 | ||
打印機 | 重量（公斤） | 3.4 3.4 | |
電源供應 | AC100V±10V | ||
