日本清新betterseishin探針型圖像分析粒度粒度/顆粒/粉末分析儀器

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更新日期：2025-05-02

簡要描述：

日本清新betterseishin探針型圖像分析粒度SOPAT系列
您可以將探針放入過程中以獲取顆粒圖像，并快速測量各種顆粒（例如顆粒，液滴，氣泡和細(xì)胞）的粒徑，粒徑分布，長寬比和圓度。
高質(zhì)量的圖像采集和分析技術(shù)可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)過程監(jiān)控和質(zhì)量控制。也可以測量高度濃縮的懸浮液中的粒徑。

詳細(xì)介紹

類型	納米	測量范圍	3-100um

日本清新betterseishin探針型圖像分析粒度SOPAT系列

您可以將探針放入過程中以獲取顆粒圖像，并快速測量各種顆粒（例如顆粒，液滴，氣泡和細(xì)胞）的粒徑，粒徑分布，長寬比和圓度。
高質(zhì)量的圖像采集和分析技術(shù)可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)過程監(jiān)控和質(zhì)量控制。也可以測量高度濃縮的懸浮液中的粒徑。

特征

可以實(shí)時(shí)管理粒度分布和形狀，而無需擔(dān)心采樣效果和時(shí)間變化。
可以追蹤由于結(jié)晶而引起的粒徑和形狀的變化。
通過選擇探針，可以在各種環(huán)境中使用它。
還可以測量每個(gè)混合顆粒的粒徑，并測量除去不想要的顆粒（氣泡等）之外的粒徑分布。

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