客戶咨詢熱線：
15270896115
圖像分析型粒度分布測量軟件Mac-View介紹
結(jié)合各種識別工具，實現(xiàn)對所有粒子的測量和分析
通過讀取SEM或TEM拍攝的圖像并識別目標顆粒，自動計算粒度分布并量化顆粒形狀。
通過使用手寫板的手動分析工具，可以輕松識別形狀復(fù)雜的顆粒和聚集的顆粒。
Mac-View Version.5 的新功能和改進
-在粒子采集模式中增加了“針形"
■ 凝聚粒子的一次粒徑分析
可以評價凝集粒子的初級粒徑，這在過去是困難的。
■ 納米粒子的評價
只要有尺度信息，無論顆粒大小如何，都可以進行分析。
■ 多方面分析/評估
可以自動測量粒度分布并分析顆粒形狀（圓度、縱橫比等）。另外，可利用的數(shù)據(jù)豐富，可以評價凝聚粒子的初級粒子。
■ 易于操作
不需要特別的知識，操作簡單，與作業(yè)人員的熟練程度無關(guān)。
■ 無需昂貴的資本投資
只要您準備好圖像（jpeg、位圖），您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。
納米粒子、凝聚粒子、造粒體、燒結(jié)體截面、乳化粒徑等
■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS
Mac-PIAS是一個全新維度的綜合粉體分析軟件，可以對任何方法測得的“粒度分布數(shù)據(jù)"進行統(tǒng)一管理和分析。
■ 篩分試驗數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh
Macmesh 是一種工具，可以消除篩選測試中的人為錯誤，數(shù)據(jù)量大，工作效率高。
| 測量功能 | 面積/周長/長軸/短軸/長度/小長度/海伍德直徑/周長圓當量直徑/圓度系數(shù)/縱橫比/形狀系數(shù)1-3/費雷特直徑/馬丁直徑/克魯姆貝因直徑/雙軸平均直徑，雙軸幾何平均直徑、雙軸協(xié)調(diào)平均直徑、長度等。 |
|---|---|
| 分析功能 | 粒度%·ON/PASS分析·體積/數(shù)量/長度轉(zhuǎn)換·峰數(shù)據(jù)分析·匯總數(shù)據(jù)分析·粒度分類轉(zhuǎn)換·篩選垂直轉(zhuǎn)換·形狀系數(shù)分析·數(shù)據(jù)合成·數(shù)據(jù)分組 |
| 其他功能 | 各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等 |
| 操作環(huán)境 | ● PC/AT 兼容機運行Microsoft Windows 7/8/10（兼容32/64 位） * 如果您使用的是Windows 7/8 ，請通過Windows Update 安裝的更新程序。 ● 用于許可證認證的 USB 硬件 配備可用于密鑰的 USB 端口（必需） ● 連接掃描儀（TWAIN 兼容）和可選液晶數(shù)位板時，需要 USB 端口等接口 ● 顯示器: 顯示高達全高清分辨率 (1,920 x 1,080) ● CPU：根據(jù)操作系統(tǒng)要求的試用（CPU 1 GHz 或更高） ● 內(nèi)存：推薦 2GB 或更多 ● 至少需要 200MB 的可用空間在內(nèi)部硬件 ● 安裝 有時需要 CD-ROM 驅(qū)動器 |
| 對應(yīng)標準 | 基于 JIS Z 8827-1 |
