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日本富士fujiwork薄膜測厚儀型號及用途介紹
標準型/薄膜型
薄膜測試儀連續測厚機FT-A200 / FT-A200R
配備高精度測量頭和放大器單元的高duan機器。
只需設置從生產線上切下的薄膜，您就可以輕松地連續測量厚度。
FT-A200 測量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測量分辨率/ 0.01 μm
帶內置顯示器的緊湊型
薄膜測試儀連續測厚機FT-D200
帶有內置顯示屏的一體式緊湊型機器。
輸送功能得到進一步提升，可實現穩定的連續測厚。
測量范圍 10 μm 至 500 μm
測量分辨率 / 0.1 μm
一體成型機的進化版。
只需設置薄膜，您就可以在沒有引線的情況下從jian端測量厚度。
測量范圍 20 μm 至 500 μm
測量分辨率/0.1 μm
一種通過保持測量頭下降速度恒定來消除測量者測量變化的測量儀器。
對超薄膜進行舒適準確的測量。
測量分辨率 0.01 μm
測量范圍 200 μm
Stylus R30 硬質合金球面
也可使用電池的緊湊型厚度測量儀。
一種通過保持測量頭下降速度恒定來消除測量者測量變化的測量儀器。
測量分辨率 0.1 μm
測量范圍 500 μm
Mushroom R30 硬質合金球面
當測量對象較大時推薦使用此方法。
是HKT-1216的大舞臺版。
* 測量臺以外的產品規格與HKT-1216相同。
測量臺 石材平臺類型
尺寸約長200 mm x 寬 150 mm x 高 300 mm
當測量對象較大時推薦使用此方法。
是HKT-1200的大舞臺版。
* 測量臺以外的產品規格與HKT-1200相同。
測量臺 石材平臺類型
尺寸約長200 mm x 寬 150 mm x 高 300 mm
無繩和輕便的固定式測量儀器。
即使在沒有電源的地方，您也可以輕松測量 0.1 μm。一種保持測量頭下降速度恒定并消除測量偏差的測量儀器。
測量分辨率 0.1 μm
測量范圍 8 mm
無繩和輕便的固定式測量儀器。此外，實現了低價格。
一種保持測量頭下降速度恒定并消除測量偏差的測量儀器。
測量分辨率 1 μm
測量范圍 8 mm
