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反射箔的發(fā)射率測(cè)量技術(shù)介紹
測(cè)量低發(fā)射率箔片總近法向發(fā)射率的程序，使最終用戶能夠使用積分球裝置或全半球近法向反射計(jì)對(duì)發(fā)射率低于0.1的不確定度低于0.03的反射箔片進(jìn)行發(fā)射率測(cè)量。
本良好實(shí)踐指南的目的是為最終用戶提供以下建議和程序：使用商用TIR100-2發(fā)射儀或與傅立葉變換光譜儀相關(guān)的紅外積分球，對(duì)不確定度低于0.03的反射箔（發(fā)射率＜0.1）進(jìn)行總近法向發(fā)射率測(cè)量，-測(cè)定反射率低于0.05的反射箔（發(fā)射率＜0.1）的半球總發(fā)射率。在歐盟，最終用戶主要用于測(cè)量反射箔發(fā)射率的設(shè)備是與FTIR光譜儀和INGLAS公司的反射計(jì)TIR100-2相關(guān)的積分球。在EMIRIM項(xiàng)目中對(duì)這兩種測(cè)量技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的研究，并對(duì)它們?cè)跍y(cè)定低發(fā)射率反射片總半球發(fā)射率方面的性能進(jìn)行了量化。
積分球的一般原理
樣品近法向光譜發(fā)射率的測(cè)量：測(cè)量原理見Erreur！入射輻射束（光譜調(diào)制）由FTIR光譜儀產(chǎn)生。積分球用于收集樣品表面反射的輻射，無(wú)論反射的擴(kuò)散是否有規(guī)律。入射光束相對(duì)于樣本表面的法線略微傾斜，
因此反射的鏡面分量總是由積分球收集。由于樣品反射的輻射在積分球上的多次反射，積分球方法原則上對(duì)樣品上反射的角度分布不敏感，并且檢測(cè)器測(cè)量的信號(hào)與樣品的反射率成比例。
必須使用在接近正常光譜反射下校準(zhǔn)的樣品對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)；
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
對(duì)于低發(fā)射率箔片的發(fā)射率測(cè)量，建議使用鏡面低發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)（鏡子）。標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)應(yīng)可追溯到SI（國(guó)際單位制），標(biāo)準(zhǔn)的總近法向發(fā)射率的擴(kuò)展不確定度應(yīng)約為0.02（k=2）。
測(cè)試的樣品
如果測(cè)試的反射箔是透明的或有孔（例如水蒸氣滲透性），則在測(cè)量過程中，應(yīng)放置一個(gè)高發(fā)射率不透明表面，使其與箔的背面接觸。這種配置更好地代表了在隔熱系統(tǒng)中使用大多數(shù)反射箔的實(shí)際配置，
通常在箔后面有高發(fā)射率材料。
帶“單光束替代誤差"校正的測(cè)量序列的描述
對(duì)于積分球，當(dāng)高反射校準(zhǔn)參考樣品被另一個(gè)樣品代替時(shí)，由積分球壁組成的空腔、開口和從球體內(nèi)部可見的樣品表面的平均反射率發(fā)生變化。因此，對(duì)積分球系統(tǒng)的輻射測(cè)量靈敏度進(jìn)行了修正。
輻射測(cè)量靈敏度的這種修改通常是重要的，必須考慮到這一點(diǎn)才能無(wú)誤地計(jì)算樣品的光譜反射率。靈敏度隨樣品反射率（發(fā)射率）變化產(chǎn)生的誤差稱為“單光束樣品吸收誤差"[1]或“單光束替代誤差[2]。圖2顯示了反射率測(cè)量的不同配置，并對(duì)“單光束替代誤差"進(jìn)行了系統(tǒng)校正。
TIR100-2型是一種緊湊型手持分析儀器,采用的是一種無(wú)損技術(shù),測(cè)量每秒內(nèi)的熱發(fā)射率。
國(guó)際公路貨運(yùn)公司是在德國(guó)制造的。
數(shù)秒鐘內(nèi)完成的測(cè)量
通過易于使用的觸摸屏操作和結(jié)果
高測(cè)量精度和重復(fù)性
測(cè)量樣品保持在常溫下
可在現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室使用的便攜式裝置
