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densoku的原理及特點分析

發布日期：2023-09-10 瀏覽次數：781

densoku的原理及特點分析

電解膜厚儀測量原理

膜厚是通過陽極-陰極電解法熔化鍍膜來測量的，這是一種應用“定律"測量鍍層厚度的方法。（陽極電解電路見圖1。）在鍍膜結束時，測量部分以恒定電流熔化，因此膜金屬消失，當底層金屬出現時，陽極電壓發生變化，這個電壓檢測到變化，測量結束。待辦事項。（見圖2）

電解式膜厚儀特點

雖然是破壞性測量方法，但測量簡便，可以測量多層電鍍。
可測量雙鎳、三鎳各層膜厚及電位差
可分別測量純錫層和鍍錫銅時形成的合金層的厚度。
能夠測量X射線無法測量的鍍層厚度（最大300μm）。
通過使用電線測試儀，可以測量細電線上的電鍍膜厚度。

使用示例

測量鍍錫線（鍍錫銅線）上純錫層的厚度
汽車外飾件中Cr/Ni/Cu三層鍍層的測量，以及Ni鍍層中雙鎳、三鎳電位差的測量。
無損膜厚計測量的交叉檢查
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