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densoku電解膜厚計的原理分析

發布日期：2022-11-07 瀏覽次數：974

densoku各類膜厚計的原理

鍍膜厚度是通過陽極電解法溶解鍍膜來測量的。（陽極電解電路見圖1。）在鍍膜結束時，由于測量部分被恒流溶解，膜金屬消失，當金屬出現時，陽極電壓發生變化，檢測到此電壓變化以結束測量。（見圖2）

電解膜測厚儀的特點

雖然是破壞型測量，但可以通過簡單的測量進行測量，也可以測量多層鍍層。
可測量雙鎳和三鎳各層的膜厚和電位差
可以分別測量在銅上鍍錫時形成的純錫層和合金層的厚度。
可測量 X 射線無法測量的厚多層鍍層（最大 300 μm）
通過使用電線測試儀，可以測量細電線上的鍍膜厚度。

使用示例

鍍錫線（鍍錫銅線）純錫層厚度測量
汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層
測量，Ni鍍層用雙鎳/三鎳電位差測量
對無損膜厚計的測量進行交叉檢查

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densoku電解膜厚計的原理分析

電解膜測厚儀的特點

使用示例

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