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光學元件掃頻測試系統的檢測數據分析
掃頻測試系統
結合可調諧激光器（TSL系列）、功率計（MPM）、偏振控制單元（PCU-110）和定制軟件，對研發和生產線上的IL/WDL/PDL進行高效測量和評估。您可以做到。
多站測量
通過將掃描測試系統與多分支單元相結合，可以進一步提高檢查和評估的效率。
Thorlabs 的TSL 系列可調諧激光器采用創新的腔體設計，可降低光學 ASE 噪聲，實現非常高的信噪比和高光輸出功率。因此，該系統可以在多個端口同時評估具有高動態范圍特性的光學元件的特性。
下圖分別顯示了 CWDM 濾波器和陷波濾波器（例如 FBG）的測量數據。
由于TSL 系列標配波長監視器，因此可以高精度測量光學元件。
下圖顯示了乙炔（12C2H2）氣體在測量波長處的吸收線，可以看出以高的測量精度進行了測量。
該系統可以測量具有高波長分辨率的 WDL 和 PDL，不僅適用于 WDM 光學元件，還適用于窄線寬濾波器。
圖中顯示了超高 Q 電容器件的測量，可以看出可以在 0.1 pm 或更小的分辨率下進行測量。
在多站測量系統中，可調諧激光器、偏振控制器和多分支單元充當服務器，光和觸發信號從中分離并發送到每個站。每個站僅由一個功率計和一臺 PC 組成。
在測量過程中，服務器的可調諧激光連續掃過規定范圍。因此，每個站都可以在任何時間獨立于其他站進行測量。
這樣，該系統可以在保持高精度特性的同時，進一步提高檢測和評估的效率。
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